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半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范 (GB/T 24468-2009)

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半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范 (GB/T 24468-2009)

标准号GB/T 24468-2009状态

发布于:2009-10-15

实施于:2009-12-01

半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范基本信息

标准号:GB/T 24468-2009

中国标准分类号:L85

国际标准分类号: 17.040.30     17 计量学和测量、物理现象 17.040 长度和角度测量 17.040.30 测量仪器仪表

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

主管部门:国家标准化管理委员会

国家标准《半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)的定义和测量规范》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为国家标准化管理委员会。

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