标准号GB/T 41805-2022状态
发布于：2022-10-14
实施于：2023-05-01
光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法基本信息
英文标题：Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
标准号：GB/T 41805-2022
标准类别：方法
中国标准分类号：N05
国际标准分类号： 81.040.01 81 玻璃和陶瓷工业 81.040 玻璃 81.040.01 玻璃综合
归口单位：全国光学和光子学标准化技术委员会
执行单位：全国光学和光子学标准化技术委员会
主管部门：中国兵器工业集团公司
国家标准《光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法》由TC103（全国光学和光子学标准化技术委员会）归口上报，TC103SC5（全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会）执行，主管部门为中国兵器工业集团公司。
