标准号GB/T 14863-2013状态
发布于：2013-12-31
实施于：2014-08-15
标准状态：废止
用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法基本信息
标准号：GB/T 14863-2013
废止日期：2017-12-15
全部代替标准：GB/T 14863-1993
中国标准分类号：H80
国际标准分类号： 29.045 29 电气工程 29.045 半导体材料
归口单位：工业和信息化部（电子）
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
