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集成电路 CMOS图像传感器测试方法 (GB/T 43063-2023)

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集成电路   CMOS图像传感器测试方法 (GB/T 43063-2023)

标准号GB/T 43063-2023状态

发布于:2023-09-07

实施于:2024-01-01

集成电路 CMOS图像传感器测试方法基本信息

标准号:GB/T 43063-2023

标准类别:方法

中国标准分类号:L54

国际标准分类号: 31.200 31 电子学,31.200 集成电路、微电子学

归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位:全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《集成电路 CMOS图像传感器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司。

主要起草人 李俊霖 、张涛 、兰太吉 、杨永强 、赵宇 、聂真威 、韩冰 、金辉 、马洪涛 、卢岩 、徐江涛 、刘昌举 、唐延甫 、聂凯明 、李金 、高志远 、马悦 、刘国清 、王琪 、刘秀娟 。

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