纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布 (GB/T 45114-2024)

标准号GB/T 45114-2024状态

发布于：2024-12-31

实施于：2025-07-01

纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布基本信息

标准号：GB/T 45114-2024

标准类别：方法

中国标准分类号：G 30

国际标准分类号： 17.180 17 计量学和测量、物理现象，17.180 光学和光学测量

归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会

执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会

主管部门：中国科学院

国家标准《纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。

主要起草单位 中国计量科学研究院、测试狗（成都）实验检测有限公司、河南科技大学、中铝科学技术研究院有限公司、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、北京智芯微电子科技有限公司、山东省计量科学研究院、清华大学深圳国际研究生院、上海交通大学、中南大学、西南科技大学、南京市计量监督检测院。

主要起草人 李旭 、任玲玲 、张毅 、王宇婷 、黄鹭 、娄花芬 、莫永达 、曹丛 、刘伟丽 、李适 、马拥军 、王俪颖 、郭新秋 、刘俊杰 、赵东艳 、梁霄鹏 、雷前 、高思田 、施玉书 、崔磊 、王亚磊 。

纳米技术 透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布 (GB/T 45114-2024)