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印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化 (GB/T 45723-2025)

标准号GB/T 45723-2025状态

发布于:2025-05-30

实施于:2025-12-01

标准名:印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化

标准号:GB/T 45723-2025

标准类别:方法

中国标准分类号:L30

国际标准分类号: 31.180 31 电子学,31.180 印制电路和印制电路板

归口单位:全国印制电路标准化技术委员会

执行单位:全国印制电路标准化技术委员会

主管部门:工业和信息化部(电子)

国家标准《印制电路板测试方法 温度循环状态下镀覆孔单孔电阻的变化》由TC47(全国印制电路标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。

主要起草单位 麦可罗泰克(常州)产品服务有限公司、无锡市同步电子科技有限公司、生益电子股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、天长市京发铝业有限公司。

主要起草人 张盘新 、何瑜 、唐鹏 、任尧儒 、曹易 、俞金法 。

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