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硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 (GB/T 29056-2025)

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硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 (GB/T 29056-2025)

标准号GB/T 29056-2025状态

发布于:2025-10-31

实施于:2026-05-01

硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法基本信息

标准号:GB/T 29056-2025

全部代替标准:GB/T 29056-2012

标准类别:方法

中国标准分类号:H17

国际标准分类号: 77.040 77 冶金,77.040 金属材料试验

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门:国家标准委

国家标准《硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。

主要起草单位 洛阳中硅高科技有限公司、江苏鑫华半导体科技股份有限公司、四川永祥新能源有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、亚洲硅业(青海)股份有限公司、青海南玻新能源科技有限公司、青海丽豪清能股份有限公司、新疆新特新能材料检测中心有限公司、湖北江瀚新材料股份有限公司。

主要起草人 万烨 、郭树虎 、刘见华 、曹俊英 、赵培芝 、吴作木 、宋丹 、王春明 、魏东亮 、李强 、冉祎 、康俊勤 、甘俊 、汤艳 。

硅外延用三氯氢硅中杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法 (GB/T 29056-2025)

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