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非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 (GB/T 4326-2025)

标准号GB/T 4326-2025状态

发布于:2025-10-31

实施于:2026-05-01

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法基本信息

标准号:GB/T 4326-2025

全部代替标准:GB/T 4326-2006

标准类别:方法

中国标准分类号:H17

国际标准分类号: 77.040 77 冶金,77.040 金属材料试验

归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会、全国有色金属标准化技术委员会

副归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门:国家标准委

国家标准《非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口上报,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准委。

主要起草单位 有研国晶辉新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导微电子科技有限公司、中国科学院半导体研究所、晶澳太阳能科技股份有限公司、大庆溢泰半导体材料有限公司、深圳大学。

主要起草人 林泉 、王博 、马远飞 、李素青 、王阳 、刘国龙 、周铁军 、王宇 、黄文文 、王金灵 、刘京明 、韩庆辉 、赵中阳 、胡世鹏 、莫杰 、朱晨阳 。

非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 (GB/T 4326-2025)

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