集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 (GB/T 42968.9-2025)

标准号GB/T 42968.9-2025状态

发布于：2025-12-02

实施于：2025-12-02

集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法基本信息

标准号：GB/T 42968.9-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

执行单位：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、扬芯科技（深圳）有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、上海电器设备检测所有限公司、厦门市产品质量监督检验院、华东师范大学、中国家用电器研究院、北京航空航天大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中国计量大学、中国合格评定国家认可中心、深圳市恒创技术有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、中山大学、北京高搏电磁兼容技术有限公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、中家院（北京）检测认证有限公司、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司。

主要起草人 付君 、程江河 、陈梅双 、崔强 、杨红波 、吴建飞 、方文啸 、孙云龙 、李焕然 、邵鄂 、梁吉明 、邢琳 、廉鹏飞 、亓新 、张艳艳 、阎照文 、李齐 、李燕 、刘佳 、杨志奇 、谭泽强 、高新杰 、李博 、弓兆博 、王晓迪 、伍强 。

集成电路 电磁抗扰度测量 第9部分：辐射抗扰度测量 表面扫描法 (GB/T 42968.9-2025)