标准号GB/Z 37664.3-2025状态
发布于：2025-12-03
纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命基本信息
标准号：GB/Z 37664.3-2025
标准类别：方法
中国标准分类号：G 30
国际标准分类号： 07.030,07.120，07 数学、自然科学
归口单位：全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位：全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门：中国科学院
国家标准《纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为中国科学院。
主要起草单位 深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司、中国计量大学、国家纳米科学中心、广纳珈源（广州）科技有限公司、杭州美联医学股份有限公司、复旦大学义乌研究院、北京北达聚邦科技有限公司、南开大学、纳晶科技股份有限公司、天美仪拓实验室设备（上海）有限公司。
主要起草人 刘祖刚 、蔡培庆 、刘忍肖 、康永印 、赵飞 、葛广路 、庞代文 、朱小波 、郭海清 、吕碧琪 、张振星 。
纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分: 时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命 (GB/Z 37664.3-2025)
