晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测 (GB/Z 119-2026)

标准号GB/Z 119-2026状态

发布于：2026-01-04

晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测基本信息

标准号：GB/Z 119-2026

标准类别：方法

中国标准分类号：K83

国际标准分类号： 27.160 27 能源和热传导工程，27.160 太阳能工程

归口单位：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会

执行单位：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测》由TC90（全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司。

主要起草人 许涛 、庄天奇 、葛华云 、黄婷 、李振国 、裴会川 、郭素琴 、冯春暖 、刘亚锋 、徐敏伟 、陈磊 。

晶体硅光伏组件 光热诱导衰减（LETID）试验 检测 (GB/Z 119-2026)