智能计算 忆阻器测试方法 第2部分：线性度 (GB/T 46567.2-2026)

标准号GB/T 46567.2-2026状态

发布于：2026-04-30

实施于：2026-11-01

智能计算 忆阻器测试方法 第2部分：线性度基本信息

标准号：GB/T 46567.2-2026

标准类别：方法

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.99 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.99 其他半导体分立器件

归口单位：全国智能计算标准化工作组

执行单位：全国智能计算标准化工作组

主管部门：国家标准委

国家标准《智能计算 忆阻器测试方法 第2部分：线性度》由SWG32（全国智能计算标准化工作组）归口上报及执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国科学院微电子研究所、之江实验室、浙江大学、国防科技大学、河北大学、东北师范大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、杭州国磊半导体设备有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国信息通信研究院、中移（杭州）信息技术有限公司、浪潮电子信息产业股份有限公司、天翼云科技有限公司、中移（苏州）软件技术有限公司、中国计量大学、深圳陆兮科技有限公司、深圳市九天睿芯科技有限公司、北京云之印科技有限公司。

主要起草人 王忠新 、许晓欣 、孙文绚 、时拓 、马小雯 、陈鹏 、王中强 、王明 、闫小兵 、李清江 、钟鑫 、刘山佳 、顾海林 、董红梁 、黄唯静 、张九六 、周兰 、蒙贵云 、张丽静 、徐海阳 、李莹 、刘琦 、王义楠 、杨彪 、张乾 、王斌强 、张明明 、滕耘 、杨明 、冯杰 、刘海连 、周芃 、刘洪杰 。

智能计算 忆阻器测试方法 第2部分：线性度 (GB/T 46567.2-2026)