标准号SJ/T 11702-2018状态
发布于：2018-02-09
实施于：2018-04-01
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
标准号：SJ/T 11702-2018
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：信息传输、软件和信息技术服务业
钟明琛、胡海涛、李秦华 等
中国电子技术标准化研究院、深圳市国微电子有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司
本标准规定了半导体集成电路串行外设接口测试方法。
本标准适用于半导体集成电路串行外设接口电特性及功能验证。
