半导体发光二极管芯片测试方法 (SJ/T 11399-2009）

标准号SJ/T 11399-2009状态

发布于：2009-11-17

实施于：2010-01-01

半导体发光二极管芯片测试方法

标准号：SJ/T 11399-2009

中国标准分类号：L45

国际标准分类号：31.260

批准发布部门：工业和信息化部

行业分类：无

鲍超、胡爱华

中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司等

主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。