半导体发光二极管测试方法 (SJ/T 11394-2009）

标准号SJ/T 11394-2009状态

发布于：2009-11-17

实施于：2010-01-01

半导体发光二极管测试方法

标准号：SJ/T 11394-2009

中国标准分类号：L45

国际标准分类号：31.260

批准发布部门：工业和信息化部

行业分类：无

鲍超

中国光学光电子行业协会光电器件分会

主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。