半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 (SJ/T 10741-2000）

标准号SJ/T 10741-2000状态

发布于：2000-12-28

实施于：2001-03-01

半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理

标准号：SJ/T 10741-2000

中国标准分类号：L56

国际标准分类号：31.200

批准发布部门：信息产业部

行业分类：无

本标准规定了半导体集成电路CMOS电路电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试。