标准号SJ 21147.3-2016状态
发布于：2016-01-19
实施于：2016-03-01
集成电路电磁发射测量方法 第3部分：辐射发射测量-表面扫描法基本信息
标准号：SJ 21147.3-2016
标准名称：集成电路电磁发射测量方法 第3部分：辐射发射测量-表面扫描法
英文名称：Measurement of electromagnetic emissions for integrated circuits -Part 3:Measurement of radiated emissions-Surface scan method
发布部门：工业局
