半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法 (DB52/T 1104-2016）

标准号DB52/T 1104-2016状态

发布于：2016-04-01

实施于：2016-10-01

状态：废止

半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

标准号：DB52/T 1104-2016

中国标准分类号：L40

国际标准分类号：31.080.01

批准发布部门：贵州省质量技术监督局

行业分类：制造业