半导体器件低浓度氢效应试验方法 (DB13/T 6033-2024)

标准号DB13/T 6033-2024状态

发布于：2024-10-28

实施于：2024-11-28

半导体器件低浓度氢效应试验方法基本信息

标准号：DB13/T 6033-2024

制修订：制定

中国标准分类号：L 40

国际标准分类号：31.080

批准发布部门：河北省市场监督管理局

行业分类：科学研究和技术服务业

标准类别：方法标准

半导体器件低浓度氢效应试验方法 (DB13/T 6033-2024)