标准号GB/T 14141-1993状态
发布于：1993-02-06
实施于：1993-10-01
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法基本信息
标准号：GB/T 14141-1993
被代替日期：2010-06-01
中国标准分类号：H21
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
国家标准《硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
