标准号GB/T 42969-2023状态
发布于：2023-09-07
实施于：2024-01-01
元器件位移损伤试验方法基本信息
标准号：GB/T 42969-2023
标准类别：方法
中国标准分类号：L56
国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学。
主要起草人 罗磊 、于庆奎 、唐民 、朱恒静 、张洪伟 、郑春 、陈伟 、丁李利 、汪朝敏 、李豫东 、文林 、薛玉雄 。
