半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法 (GB/T 4937.38-2025)

标准号GB/T 4937.38-2025状态

发布于：2025-12-02

实施于：2026-07-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法基本信息

标准号：GB/T 4937.38-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、安徽一天电气技术股份有限公司、安徽钜芯半导体科技股份有限公司。

主要起草人 雷志锋 、彭超 、黄云 、何玉娟 、张战刚 、何凡 、付青琴 、恩云飞 、来萍 、余银钢 、曹孙根 。

半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法 (GB/T 4937.38-2025)