半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验 (GB/T 4937.29-2025)

标准号GB/T 4937.29-2025状态

发布于：2025-12-02

实施于：2026-07-01

半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验基本信息

标准号：GB/T 4937.29-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L40

国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、广州七喜智能设备有限公司、安徽安芯电子科技股份有限公司、深圳市金誉半导体股份有限公司、山东省中智科标准化研究院有限公司。

主要起草人 来萍 、肖庆中 、师谦 、恩云飞 、周圣泽 、路国光 、赖灿雄 、赵东艳 、徐平江 、单书珊 、高斌 、汪良恩 、李明钢 、邓海峰 。

半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验 (GB/T 4937.29-2025)