集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 (GB/T 44937.6-2025)

标准号GB/T 44937.6-2025状态

发布于：2025-12-31

实施于：2026-07-01

集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法基本信息

标准号：GB/T 44937.6-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

执行单位：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、浙江大学、上海市计量测试技术研究院、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、健研检测集团有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、安徽省计量科学研究院、南京信息工程大学、中国民航大学、联想(北京)有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、豪威北方集成电路有限公司、上海雷卯电子科技有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、深圳市品声科技有限公司。

主要起草人 付君 、崔强 、万发雨 、方文啸 、吴建飞 、朱赛 、邵伟恒 、魏兴昌 、叶畅 、高杰 、刘超 、李金龙 、雷黎丽 、梁吉明 、龙发明 、钟嘉强 、张洁 、王少启 、王健伟 、吕飞燕 、周香 、黄雪梅 、臧琦 、刘佳 、薛树成 、胡光亮 、杨统乾 、陸振璘 。

集成电路 电磁发射测量 第6部分：传导发射测量 磁场探头法 (GB/T 44937.6-2025)