IEC 61967-8:2023 集成电路 - 电磁发射测量 - 第8部分：辐射发射测量 - IC带状线法
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
标准号：IEC 61967-8:2023
发布日期：2023-05-03
IEC61967-8:2023的适用范围为：本文件规定了集成电路电磁辐射测量方法，适用于评估集成电路在150kHz至1GHz频率范围内的电磁辐射特性，主要针对采用集成电路封装体作为辐射天线的测量技术，为集成电路设计、测试和应用提供标准化的辐射发射评估依据。
集成电路 - 电磁发射测量 - 第8部分：辐射发射测量 - IC带状线法 (IEC 61967-8:2023)