集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 (GB/T 44937.8-2025)

标准号GB/T 44937.8-2025状态

发布于：2025-12-31

实施于：2026-07-01

集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法基本信息

标准号：GB/T 44937.8-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

执行单位：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、海研芯（青岛）微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、浙江诺益科技有限公司、深圳市中兴微电子技术有限公司、中山大学、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、上海机动车检测认证技术研究中心有限公司、北京无线电计量测试研究所、天津大学、中国信息通信研究院、长沙芯连心智慧系统有限责任公司、河南省电子信息产品质量检验技术研究院、广州广电计量检测（上海）有限公司、思科系统（中国）研发有限公司、福州物联网开放实验室有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、中家院（北京）检测认证有限公司、中国合格评定国家认可中心、亚锐檀桐检测技术（上海）有限公司、国网电力科学研究院有限公司。

主要起草人 付君 、崔强 、靳冬 、吴建飞 、乔磊 、王新才 、方文啸 、朱赛 、徐蛟 、叶畅 、梁吉明 、李楠 、褚瑞 、黄雪梅 、郑益民 、陈梅双 、龙发明 、吴倩 、王晓迪 、刘星汛 、臧琦 、王紫任 、李彦鹏 、冯星辉 、江峰 、楼建全 、赖秋辉 、连恒兴 、焦璨 、刘佳 、邓勇 、鞠文静 。

集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 IC带状线法 (GB/T 44937.8-2025)