集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法 (GB/T 44937.2-2025)

标准号GB/T 44937.2-2025状态

发布于：2025-12-31

实施于：2026-07-01

集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法基本信息

标准号：GB/T 44937.2-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

执行单位：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、浙江诺益科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、海研芯（青岛）微电子有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、中山大学、苏州泰思特电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、中国家用电器研究院、南京信息工程大学、广州赛宝计量检测中心服务有限公司、海军电磁兼容研究检测中心、中国合格评定国家认可中心、福州物联网开放实验室有限公司、极氪汽车（宁波杭州湾新区）有限公司、中国北方车辆研究所、中国信息通信研究院、合兴汽车电子（太仓）有限公司、深圳市必联电子有限公司、中航光电科技股份有限公司、柳州汽车检测有限公司、重庆新民康科技优先公司、拢泽（上海）技术有限公司。

主要起草人 郑益民 、崔强 、付君 、黄雪梅 、吴建飞 、方文啸 、朱赛 、张治中 、胡小军 、李焕然 、符荣杰 、王新才 、梁吉明 、褚瑞 、李齐 、菅端端 、张洁 、谭泽强 、亓新 、陈彦 、张勇 、刘佳 、赖秋晖 、朱崇铭 、赵骥 、王紫任 、李旺 、刘海涛 、郭辉 、张吉宇 、陈小勇 、鲍宇航 。

集成电路 电磁发射测量 第2部分：辐射发射测量 TEM小室和宽带TEM小室法 (GB/T 44937.2-2025)