工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法 (YS/T 1160-2016）

标准号YS/T 1160-2016状态

发布于：2016-07-11

实施于：2017-01-01

工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法

标准号：YS/T 1160-2016

中国标准分类号：H12

国际标准分类号：29.045

批准发布部门：工业和信息化部

行业分类：无

本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。

本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。