标准号SJ/T 11487-2015状态
发布于：2015-04-30
实施于：2015-10-01
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
标准号：SJ/T 11487-2015
中国标准分类号：H83
国际标准分类号：29.045
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：无
何秀坤、董彦辉、刘兵 等
信息产业专用材料质量监督检验中心、工业和信息化部电子工业标准化研究院、苏州晶瑞化学有限公司等
本标准规定了半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法。 本标准适用于半绝缘砷化镓、磷化铟、碳化硅等高阻半导体材料电阻率的测量，电阻率的测量范围为10^5 Ω·cm～10^12Ω·cm。
