标准号SJ 21343-2018状态
发布于：2018-01-18
实施于：2018-05-01
微波元器件低温环境下S参数测试方法基本信息
标准号：SJ 21343-2018
标准名称：微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称：Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
发布部门：科技工业局
微波元器件低温环境下S参数测试方法 (SJ 21343-2018)
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