标准号YS/T 1768-2025状态
发布于：2025-04-10
实施于：2025-11-01
硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法参考件基本信息
标准号：YS/T 1768-2025
制修订：制定
中国标准分类号：H17
国际标准分类号：77.04
批准发布部门：工业和信息化部
行业分类：制造业
标准类别：方法标准
适用范围：适用于硅多晶生产用石墨制品中表面杂质元素含量的测定。
硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法参考件 (YS/T 1768-2025)
