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混合信号半导体器件测试设备 (T/ZACA 041-2022)

混合信号半导体器件测试设备 (T/ZACA 041-2022)

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标准号T/ZACA 041-2022状态

发布日期:2022年06月28日

实施日期:2022年07月01日

标准状态:现行

混合信号半导体器件测试设备基本信息

标准编号:T/ZACA 041—2022

英文标题:Mixed signal semiconductor device test equipment

国际标准分类号:17.040.30测量仪器仪表

中国标准分类号:L87

国民经济分类:C402 专用仪器仪表制造

起草人:陈永、凌云、邬刚、王瑞金、翁正林。

起草单位:杭州加速科技有限公司,通富微电子股份有限公司、华天科技(西安)有限公司、长三角集成电路工 业应用技术创新中心、矽力杰半导体技术(杭州)有限公司、北京集创北方科技股份有限公司

范围:本文件适用于数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等半导体器件功能和性能测试设备。

是否包含专利信息:否

本文件规定了混合信号半导体器件测试设备(以下简称测试设备)的术语和定义、基本参数、技术要求、试验方法、检验规则、标识、包装、运输和贮存。……

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