多晶硅表面微尘的测定 浊度计法 (T/CPIA 0144-2025)

标准号T/CPIA 0144-2025状态

发布时间：2025-11-15

实施时间：2025-11-30

多晶硅表面微尘的测定 浊度计法基本信息

发布部门：中国光伏行业协会

标准页数：9页

内容简介：本文件规定了多晶硅表面微尘的方法原理、试剂和材料、仪器设备等测定。本文件适用于多晶硅破碎后表面微尘浊度的测定,检测下限为0.1 NTU。