使用深能级瞬态谱研究...-王文静

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使用深能级瞬态谱（DLTS）技术研究了王文静所涉及材料或器件中的深能级缺陷特性。通过分析瞬态电容或电流信号，获得了缺陷的能级位置、俘获截面、浓度等关键参数，揭示了缺陷对材料电学性能或器件可靠性的影响。该研究为优化材料制备工艺或提升器件性能提供了理论依据。