光伏组件的LeTID测试-高祺

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高祺在光伏组件LeTID测试中主要研究了光致衰减与热辅助诱导衰减的耦合效应。他通过调节温度和光照强度，发现LeTID在高温高光条件下显著加剧，且衰减速率与组件中硼氧复合体及金属杂质的扩散行为相关。测试结果表明，常规抗PID（电势诱导衰减）措施对LeTID抑制效果有限，需结合硅片品质优化（如降低间隙氧含量）和金属钝化工艺改进来提升组件抗衰减能力。