IEC 61967-4:2021 RLV

IEC 61967-4:2021 RLV 集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method 标准号：IEC 61967-4:2021 RLV 发布日期：2021-03-16 IEC61967-4:2021RLV的适用范围主要涉及集成电路（IC）电磁发射测量的标准化方法。该标准规定了使用1Ω/150Ω直接耦合法测量IC在150kHz至1GHz频率范围内电磁发射的具体要求和程序。它适用于评估IC在正常工作条件下产生的传导电磁干扰（EMI），为设计人员、测试实验室和制造商提供一致的测试方法，以确保IC电磁兼容性（EMC）性能的可比性和可靠性。该标准适用于各类半导体器件，尤其关注引脚或端子传导发射的量化测量。