IEC 61967-4:2021 集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量 1欧姆/150欧姆直接耦合法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 4: Measurement of conducted emissions - 1 ohm/150 ohm direct coupling method 标准号：IEC 61967-4:2021 发布日期：2021-03-16 IEC61967-4:2021的适用范围主要涉及集成电路（IC）电磁发射测量的标准方法。该标准规定了使用1Ω/150Ω直接耦合法测量IC在150kHz至1GHz频率范围内电磁发射的测试条件和程序。它适用于评估集成电路在正常工作状态下产生的传导电磁干扰（EMI），为IC设计者、制造商和测试实验室提供统一的测量方法，确保测试结果的可比性和重复性。该标准通常用于消费电子、汽车电子、工业控制等领域中IC的EMC性能验证。
IEC 61967-4:2021