IEC 61788-17:2021 RLV 超导性 - 第17部分：电子特性测量 - 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布 Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films 标准号：IEC 61788-17:2021 RLV 发布日期：2021-04-28 IEC61788-17:2021RLV的适用范围是规定了测量超导体在直流（DC）条件下临界电流的测试方法。该标准适用于各种形状和尺寸的超导材料，包括线材、带材和块材，旨在提供一致且可重复的测量程序，以确保不同实验室和制造商之间的测试结果具有可比性。标准涵盖了测试设备、样品制备、测量步骤以及数据处理等方面的要求，适用于高温超导体（HTS）和低温超导体（LTS）的临界电流测量。
IEC 61788-17:2021 RLV