IEC TS 63342:2022

IEC TS 63342:2022 C-Si光伏（PV）组件 - 光照和高温诱导衰减（LETID）测试 - 检测 C-Si photovoltaic (PV) modules - Light and elevated temperature induced degradation (LETID) test - Detection 标准号：IEC TS 63342:2022 发布日期：2022-07-20 IECTS63342:2022的适用范围主要涉及光伏组件在长期运行过程中的耐久性和可靠性评估。该技术规范为光伏组件的加速老化测试提供指导，旨在模拟实际环境条件（如温度、湿度、紫外线辐射等）对组件性能的影响，以评估其在预期使用寿命内的性能退化情况。它适用于晶体硅、薄膜等不同类型的光伏组件，为制造商、测试机构和相关利益方提供统一的测试方法和评估依据，确保组件在户外长期使用中的稳定性和安全性。