IEC TS 62607-3-3:2020 纳米制造 关键控制特性 第3-3部分：发光纳米材料 半导体量子点荧光寿命的测定 采用时间相关单光子计数法 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 3-3: Luminescent nanomaterials - Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting (TCSPC) 标准号：IEC TS 62607-3-3:2020 发布日期：2020-09-24 IECTS62607-3-3:2020是一项技术规范，主要适用于纳米制造领域中的关键控制特性评估。该标准具体规定了纳米材料在制造过程中电学性能的测量方法，特别是针对场效应晶体管（FET）结构的纳米材料。它适用于评估纳米材料的载流子迁移率、阈值电压等关键电学参数，为纳米电子器件的性能评估和质量控制提供标准化测试程序。该技术规范适用于科研机构、纳米材料制造商以及电子器件生产商，用于确保纳米材料电学性能测试的一致性和可比性。
IEC TS 62607-3-3:2020