半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第1部分：总则 (IEC 60749-1:2002)

IEC 60749-1:2002 半导体器件 - 机械和气候试验方法 - 第1部分：总则 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General 标准号：IEC 60749-1:2002 发布日期：2002-08-30 IEC60749-1:2002的适用范围如下：本部分适用于半导体器件，规定了适用于半导体器件（包括分立器件和集成电路）的环境和机械试验方法，以及这些试验中需要测量的电特性。它旨在为半导体器件的环境试验和机械试验提供统一的标准方法，以确保试验结果的一致性和可比性。