集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第6部分：传导发射测量 - 磁探头法 (IEC 61967-6:2002)

IEC 61967-6:2002 集成电路 - 电磁发射测量，150 kHz至1 GHz - 第6部分：传导发射测量 - 磁探头法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method 标准号：IEC 61967-6:2002 发布日期：2002-06-25 IEC61967-6:2002的适用范围是规定集成电路电磁发射的测量方法，具体针对传导发射测量，使用1Ω/150Ω直接耦合法。该标准适用于频率范围从150kHz到1GHz的测量，旨在评估集成电路在典型工作条件下通过其引脚产生的传导电磁干扰。