采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第二部分：石英晶体元件动态电容测量的相位偏移法 (IEC 60444-2:1980)

IEC 60444-2:1980 采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第二部分：石英晶体元件动态电容测量的相位偏移法 Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network. Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units 标准号：IEC 60444-2:1980 发布日期：1980-01-01 IEC60444-2:1980标准规定了采用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和等效电阻的方法，主要适用于频率在1MHz至200MHz范围内、等效电阻不大于300Ω的石英晶体谐振器。该标准适用于对石英晶体元件基本参数进行准确测量的场景，为晶体制造、检验和应用提供统一的测试依据。