集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分：辐射抗扰度测量 - TEM小室及宽带TEM小室法 (IEC 62132-2:2010)

IEC 62132-2:2010 集成电路 - 电磁抗扰度测量 - 第2部分：辐射抗扰度测量 - TEM小室及宽带TEM小室法

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method

标准号：IEC 62132-2:2010

发布日期：2010-03-30

IEC62132-2:2010标准适用于评估集成电路对传导射频干扰的抗扰度，具体针对通过直接射频功率注入法进行测试的情况。该部分规定了测试方法、设备要求、测试设置和程序，用于测量集成电路在受到传导射频干扰时的性能表现。它主要适用于频率范围通常为150kHz至1GHz的干扰信号，用于确保集成电路在电磁环境中能够正常工作而不受干扰影响。该标准适用于集成电路制造商、测试实验室以及相关电子设备的设计和验证人员。