嵌入式核心集成电路标准可测试性方法 (IEC 62528:2007)

IEC 62528:2007 嵌入式核心集成电路标准可测试性方法

Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

标准号：IEC 62528:2007

发布日期：2007-11-07

IEC62528:2007标准规定了片上系统（SoC）测试方法的标准，其适用范围主要包括：为SoC设计、制造和测试提供统一的测试架构与流程要求，涵盖测试访问机制、测试控制逻辑、测试数据格式及互操作性等，适用于基于数字、模拟、存储器混合电路的复杂SoC产品，旨在提高测试效率、降低测试成本并支持IP核复用。