标准号GB/T 45722-2025状态
发布于：2025-05-30
实施于：2025-09-01
标准名：半导体器件 恒流电迁移试验
标准号：GB/T 45722-2025
标准类别：方法
中国标准分类号：L40
国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体器件 恒流电迁移试验》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、深圳市威兆半导体股份有限公司、深圳市诚芯微科技股份有限公司、广东工业大学、中绍宣标准科技集团有限公司、深圳市天成照明有限公司。
主要起草人 章晓文 、林晓玲 、游海龙 、周斌 、尹丽晶 、贺致远 、来萍 、张战刚 、雷登云 、王铁羊 、孟苓辉 、陈义强 、彭浩 、李伟聪 、曹建林 、崔从俊 、林坚耿 。
