标准号GB/T 45721.1-2025状态
发布于：2025-05-30
实施于：2025-09-01
标准名：半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验
标准号：GB/T 45721.1-2025
标准类别：方法
中国标准分类号：L40
国际标准分类号： 31.080.01 31 电子学，31.080 半导体分立器件，31.080.01 半导体分立器件综合
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
国家标准《半导体器件 应力迁移试验 第1部分：铜应力迁移试验》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
主要起草单位 工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、河北北芯半导体科技有限公司、华南理工大学、杭州飞仕得科技股份有限公司、广东工业大学、广东气派科技有限公司、中绍宣标准科技集团有限公司。
主要起草人 黄云 、肖庆中 、高汭 、韦覃如 、成立业 、雷登云 、周振威 、陈思 、黄钦文 、贾沛 、赵海龙 、姚若河 、李军 、万永康 、虞勇坚 、刘东月 、陈勇 、崔从俊 。
