半导体单晶材料透过率测试方法 (GB/T 46227-2025)

标准号GB/T 46227-2025状态

发布于：2025-08-29

实施于：2026-03-01

半导体单晶材料透过率测试方法基本信息

标准号：GB/T 46227-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：H21

国际标准分类号： 77.040 77 冶金，77.040 金属材料试验

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会

执行单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会

主管部门：国家标准委

国家标准《半导体单晶材料透过率测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口上报，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准委。

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、江苏第三代半导体研究院有限公司、松山湖材料实验室、新美光（苏州）半导体科技有限公司、有研国晶辉新材料有限公司、安徽光智科技有限公司、天通银厦新材料有限公司、广东先导微电子科技有限公司、中电晶华（天津）半导体材料有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、南京盛鑫半导体材料有限公司、山东有研半导体材料有限公司、山东天岳先进科技股份有限公司、广东天域半导体股份有限公司、北京天科合达半导体股份有限公司、云南驰宏国际锗业有限公司、杭州镓仁半导体有限公司、浙江海纳半导体股份有限公司、甬江实验室微谱（浙江）技术服务有限公司、昆山海菲曼科技集团股份有限公司、河南中宜创芯发展有限公司。

主要起草人 李静 、何烜坤 、李素青 、许蓉 、齐海涛 、索开南 、胡伟 、王英明 、齐兴旺 、欧琳芳 、郝文娟 、孙雪峰 、李明达 、王阳 、王银海 、夏秋良 、朱晓彤 、张红岩 、丁雄杰 、佘宗静 、匡子登 、夏宁 、沈益军 、吴杰 、边仿 、孙毅 、李欢欢 。

半导体单晶材料透过率测试方法 (GB/T 46227-2025)