集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法 (GB/T 42968.3-2025)

标准号GB/T 42968.3-2025状态

发布于：2025-12-02

实施于：2025-12-02

集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法基本信息

标准号：GB/T 42968.3-2025

标准类别：方法

中国标准分类号：L56

国际标准分类号： 31.200 31 电子学，31.200 集成电路、微电子学

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

执行单位：全国集成电路标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

国家标准《集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口上报及执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。

主要起草单位 中国电子技术标准化研究院、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、天津先进技术研究院、厦门海诺达科学仪器有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中山大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、南京容向测试设备有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、国网电力科学研究院有限公司、东南大学、中国合格评定国家认可中心、苏州泰思特电子科技有限公司、青岛市产品质量检验研究院、中国信息通信研究院、北京福测电子仪器有限公司、宇通客车股份有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、广州汽车集团股份有限公司汽车工程研究院、湖南进芯电子科技有限公司、广州市爱浦电子科技有限公司。

主要起草人 付君 、崔强 、雷黎丽 、朱赛 、朱昨庆 、叶畅 、方文啸 、邹广才 、张红丽 、邵伟恒 、黄雪梅 、王文杰 、孙婧 、梁吉明 、邢立文 、李腾飞 、张洁 、杨志超 、周香 、刘佳 、胡小军 、王紫任 、兰德福 、张高杰 、张颖 、付国良 、易峰 、薛涛 。

集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法 (GB/T 42968.3-2025)