半导体器件 - 集成电路 - 第3部分：模拟集成电路 (IEC 60748-3:1986)

IEC 60748-3:1986 半导体器件 - 集成电路 - 第3部分：模拟集成电路 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 3: Analogue integrated circuits 标准号：IEC 60748-3:1986 发布日期：1986-01-01 IEC60748-3:1986的适用范围为：本部分规定了半导体器件（分立器件和集成电路）的机械和气候试验方法，适用于评定器件在预期使用环境中可能遇到的机械和气候应力下的可靠性和坚固性。它涵盖了试验条件、程序及所需测量，主要用于鉴定批准、质量一致性检验及相关可靠性评估。